PI 88 Picoindenter
Hysitron PI 88 sisteminin numune platformu; 5 farklı eksende ( x-y-z, rotation, tilt ) bağımsız olarak hareket edebilmektedir. Bu özelliği sayesinde; SEM cihazının sahip olduğu dedektörler ( EBSD, EDS, WDS, FIB vb. ) arasında özgürce test öncesi ve sonrası ölçümler kolaylıkla alınabilmektedir. Ölçüm alınan yüzey FIB ile tekrar modifiye edilip yeni bir ölçüm alınabilmektedir. Bu sayede vakum bozulmamakta ve numunenin okside olma riski olmadan SEM içerisinde görülmemiş bir esnekliğe ulaşılmaktadır.
PI 88 SEM Picoindenter sistemi, dünyaca tanınmış SEM sistemlerine entegre olabilen ve derinlik algıyıcı özelliğe sahip indentasyon sistemi ile kantitatif nanomekanik testler yapılırken eş zamanlı olarak elektron mikroskopisi görüntüsü de alınabilmektedir.
Böylece araştırmacı, SEM içerisinde test süresince deformasyonu izleyebilir, tam zamanlı mekanik verileri değerlendirebilir. PI 88 sistemi; kırılma başlangıcı, çatlak ilerlemesi, delaminasyon gibi davranışları karakterize etmek için idealdir. Ayrıca viskoelastik davranımlar, indentasyon, çekme, basma, bükme gibi mekanik özellikler gerçek zamanlı olarak incelenebilir. Bütün bu teknikler malzeme davranışları konusunda eşsiz bir bakış açısı sunar.
Hysitron PI 88 SEM PicoIndenter, SEM ve FIB / SEM için kapsamlı in-situ nanomekanik test cihazıdır. Bruker'ın lider kapasitif ölçüm teknolojisine dayanan PI 88 SEM PicoIndenter, araştırmacılara olağanüstü performans ve çok yönlülük sunan güçlü özelliklere sahip gelişmiş bir platform sağlar. Modüler tasarım sayesinde, 800°C'lik ısıtma, çizilme testi, 5 eksenli örnek konumlandırma, elektriksel karakterizasyon, dinamik yorulma testi ve istenildiğinde tüm bu testleri genişletilmiş aralık (500 mN, 150 μm) dahil olmak üzere gelecekteki gereksinimleri karşılayacak esnekliğe sahiptir.
PI 85L SEM Picoindenter Teknik Özellikleri
- Mevcut SEM cihazlarına kolay entegrasyon
- 5 eksenli numune hareketi ( x,y,z,rotation,tilting
- 78kHz, DSP teknolojili, gelişmiş Performech ® kontrol modülü
- Patentli, elektrostatik kuvvet ve kapasitif hareket özellikli ölçüm hücresi
- SEM, Raman ve optik mikroskoplara entegre edilebilen düşük profilli tasarım
- Nanoindentasyon, sıkıştırma, gerilme veya eğme test modları
- Özel Q-Kontrol aktif titreşim azaltıcı sistem
- Çoklu kuvvet ve hareket kontrol modları
- 400 ºC veya 800 ºC ye kadar ölçüm yapabilme özelliği
- Dinamik Yorulma Testi (Dynamic Fatigue Testing)
- Elektriksel iletkenlik ölçüm özelliği
- Çizik Testi (Scratch Testing)
PI 85L SEM Picoindenter Opsiyonları
- SEM and TEM Heating
- Electrical Characterization
- Push-to-pull Device
- nanoDynamic Analysis
- nanoScratch Mode
PI 88 SEM Picoindenter Brochure
Hysitron PI_Series_PicoIndenters Brochure